負(fù)壓式密封檢測(cè)儀TD-MFY-03

產(chǎn)品型號(hào)：TD-MFY-03（負(fù)壓）

負(fù)壓式密封檢測(cè)儀TD-MFY-03產(chǎn)品用途：于食品、制藥、醫(yī)療器械、日化、汽車、電子元器件、文具等行業(yè)的包裝袋、瓶、管、罐、盒等的密封試驗(yàn)。亦可進(jìn)行經(jīng)跌落、耐壓試驗(yàn)后的試件的密封性能測(cè)試
通過對(duì)真空室抽真空，使浸在水中的試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣內(nèi)氣體外逸情況，以此判定試樣的密封性能；通過對(duì)真空室抽真空，使試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣膨脹及釋放真空后試樣形狀恢復(fù)情況，以此判定試樣的密封性能。

 產(chǎn)品名稱：顯微硬度計(jì) 
產(chǎn)品型號(hào)：TD-HV1000B

 顯微硬度計(jì) 型號(hào)：TD-HV1000B

TD-HV1000B型顯微硬度計(jì) 
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TD-HV1000B型顯微硬度計(jì) 
該機(jī)采用無摩擦主軸，試驗(yàn)力精度高；高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，精密坐標(biāo)試臺(tái)；中英文界面轉(zhuǎn)換； 
試驗(yàn)過程自動(dòng)化，操作簡(jiǎn)單，無人為操作誤差；可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn)；可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng)；精度符合GB/T4340.2, ISO6507-2和ASTM E384。  
顯微硬度計(jì)主要應(yīng)用范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；材料強(qiáng)度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度；于平行平面和微小零件及薄零件的精密維氏測(cè)量。 
顯微硬度計(jì)主要技術(shù)參數(shù) 
硬度測(cè)量范圍：5-3000HV 
試 驗(yàn) 力：0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓 
               （10、25、50、100、200、300、500、1000克力） 
顯微硬度計(jì) 硬度標(biāo)尺：HV0.01、HV0.025、HV0.05、HV0.1、HV0.2、HV0.3、HV0.5、HV1 
測(cè)量系統(tǒng)放大倍數(shù)：400倍（測(cè)量）、100倍（觀察） 
測(cè)量系統(tǒng)分辨率：0.25微米                測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量范圍：200微米 
精度：符合GB/T 4340.2-1999           試件允許大高度：75毫米 
壓頭中心至機(jī)壁距離：110毫米            電     源：交流220伏, 50赫茲 
外形尺寸：470 x 320 x 500毫米         重     量：約40公斤 
主要附件  
座標(biāo)試臺(tái)：1個(gè)                    平口鉗：  1個(gè)                                     
薄板試臺(tái)：1個(gè)                   大V形塊： 1個(gè) 
細(xì)軸試臺(tái)：1個(gè)                   小V形塊： 1個(gè) 
金剛石角錐壓頭：1只           打印機(jī)：   1個(gè) 
標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊：2塊

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式電阻率測(cè)試儀 電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：M-2 

數(shù)字式電阻率測(cè)試儀 電阻率測(cè)試儀型號(hào)：M-2

M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量 
M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量。 
儀器由主機(jī)，測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準(zhǔn)確，游移率較小，壽命長(zhǎng)。 
儀器于半導(dǎo)體材料廠，半導(dǎo)體器件廠，科研單位，高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合. 
M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀工作條件為： 
溫度： 
相對(duì)濕度： 60% ~ 70% 
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾，不與高頻設(shè)備共用電源 
  
二·M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù) 
1. 測(cè)量范圍： 
電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長(zhǎng)（或高）度：≤400mm 
3. 測(cè)量方位： 
軸向，徑向均可 
4. 數(shù)字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示 
5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào)，系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探針測(cè)試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機(jī)械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源： 
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機(jī)： 170mm (長(zhǎng)) X 130mm (寬) X50mm(高)