煙（粉）塵濃度監(jiān)測儀TC-MODEL-3020

產(chǎn)品 編 號：TC-008346
煙（粉）塵濃度監(jiān)測儀TC-MODEL-3020可用于各種污染排放源的顆粒污染物濃度實時連續(xù)測量,可配套煙氣監(jiān)測系統(tǒng),也可單*臺或幾臺連接成一套煙塵監(jiān)測網(wǎng)絡,共用一個前臺。 儀器可于電廠,鋼廠,水泥廠等煙塵監(jiān)測,也可用于除塵設備及其它粉體工程的過程控制. 
采用激光背散射原理,不怕煙道的機械振動及煙氣溫度不均造成的折射率不均造成的光束擺動. 
單端安裝,無需光路對中. 
儀器設計貫徹“無工具”現(xiàn)場安裝的思路，zui大限度地降低現(xiàn)場安裝的復雜度，儀器及防雨系統(tǒng)的安裝僅電器連接需要一支螺絲刀，不必帶連接螺栓、螺母，10分鐘內即可完成安裝，zui大限度地減少由于現(xiàn)場安裝調試帶來的諸多問題. 
采用標準4-20mA工業(yè)標準電流輸出,連接方便. 
儀器整體功耗非常小,大約5w左右. 
一般標準設置參數(shù)可于煙道璧厚小于400，煙道直徑大于儀器標示（D.GT. 2000）,在特殊的要求條件下測量區(qū)大小可以訂制. 用戶也可以在經(jīng)維護人員的認可及指導下調整. 
技術指標： 
尺寸、重量:                      160×160×250mm  4Kg 
環(huán)境要求:                        溫度：-40℃~65℃/相對濕度：0- R. H. 
測量誤差:                        ±2%FS 
介質條件:                        溫度  zui高300℃（高溫需定制） 
信號輸出:                        4-20mA 
zui大輸出負載:                    500Ω 
靈敏度:                          2mg/m3 
測量范圍:                        zui小0-200mg/m3/zui大0-10g/m3 
可以測量煙囪大小:                1-15m 
功耗:                            3 W 
供電:                            DC 16-24V±10% 
可顯示數(shù)據(jù) 

 產(chǎn)品名稱：維氏硬度計 
產(chǎn)品型號：TDHV-50A

維氏硬度計 型號：TDHV-50A

TDHV-50A型維氏硬度計 
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TDHV-50A型維氏硬度計 
該機采用無摩擦主軸，試驗力精度高；構造堅固，測試效率高；高精度讀數(shù)測微計量系統(tǒng)；試驗過程自動化，無人為操作誤差；精度符合GB/T4340.2  ISO6507-2 和美國ASTM E92。 
維氏硬度計主要范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；材料強度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度；應用范圍廣，特別于平行平面的精密測量。 
維氏硬度計主要技術參數(shù) 
TDHV-50A型維氏硬度計 
測量范圍：5-2900HV 
試 驗 力：49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛頓 
              （1、5、10、20、30、50公斤力） 
試樣允許大高度：180毫米              壓頭中心至機壁距離：125毫米 
光學測微計放大倍數(shù)：125倍，50倍     小檢測單位：1微米 
電     源：交流220V，50/60赫茲       外形尺寸：580 x 260 x 730毫米 
重     量：約90千克 
維氏硬度計主要附件 
大平試臺： 1個            小平試臺：        1個 
V型試臺：  1個            金剛石角錐壓頭：1只 
標準維氏硬度塊：3塊

產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀
產(chǎn)品型號：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1 
一、測試原理 
1、電阻率測試探頭原理 
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產(chǎn)生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復性好，測試數(shù)值穩(wěn)定，技術成熟等優(yōu)點，廣泛用于各種材料厚度的測試。 
  
二、范圍 
本設備為非接觸無損測量設備，測試過程中對硅片表面以及內部不會造成損傷。特別于代替四探針法用于半導體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。 
三、儀器構成 
1、測試主機：1 臺 
2、電源線：1 根 
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個 

四、儀器外觀尺寸結構及圖片 
1、整機尺寸：340*260*180mm 
2、機箱顏色：電腦白 


3、儀器結構：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標 
1、電氣規(guī)格 
a. 使用標準三插頭，由 220V 交流電供電，整機功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請確保電源地線正確連接。 
2、測試范圍 
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內的可以按要求調整， 調整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區(qū)域。