高效液相色譜儀梯度系統(tǒng)TC-HDLC-10
在分析分離保留范圍很寬的復雜樣品時，必須采用梯度洗脫技術。本產(chǎn)品的高效液相色譜梯度洗脫系統(tǒng)，只要
在等度配置的基礎上，再增加一個輸液泵，則可以升級為二元梯度洗脫系統(tǒng)。該系統(tǒng)能解決液相色譜分析中的
一般性洗脫問題，滿足研究機構和生產(chǎn)廠家對儀器設備的需求。

高效液相色譜儀梯度系統(tǒng)TC-HDLC-10

特性：

● 泵運行及梯度混合均由軟件全程控制。
● 機內(nèi)動態(tài)混合，zui大限度地保證了分析精度和重現(xiàn)性
● 等度分析無需對系統(tǒng)結構作任何改動
● 積木式結構，可方便改裝成為兩套單元系統(tǒng)

技術參數(shù)：
高效液相色譜儀梯度系統(tǒng)/色譜儀       型號：TC-HDLC-10
色譜柱CenturySIL ODS2 5μm
規(guī) 格（200×4.6）mm
流動相A：0.05M KH2PO4pH 5.0/CH3CN（99.1）
B：0.05M KH2PO4pH 5.0/CH3CN（80.20）
92%A洗脫6.5min，在25min內(nèi)A由92%至0%，0%A保持15min
流 速1.0mL/min
波 長254nm
樣 品阿莫西林鈉注射液
電 源AC220V±22V 50Hz±1Hz 300W

高效液相色譜儀梯度系統(tǒng)/色譜儀       型號：TC-HDLC-10

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產(chǎn)品名稱：磚回彈儀
產(chǎn)品型號：HT-75B

  磚回彈儀型號：HT-75B
 說明  

符合GB/T50315-2000 標準。本儀器于無損檢測燒結 普通磚的強度，同樣適合于輕骨料混凝土及 

其他輕質(zhì)材料的強度檢測。  

特點  

1）中心導桿采用進口材料，精度高、耐磨損；  

2）殼體采用高分子復合材料，彈性高手感高，避免現(xiàn)場作業(yè)損傷儀器，延長使用壽命；  

3）指針滑塊采用外置式簧圈結構，既便于摩擦力調(diào)整，又能保 證指針軸與指針滑塊摩擦力的均勻， 

確保儀器的度。 相對同行產(chǎn)品性價比好，度高，使用壽命長。特別適合 小型磚廠使用。 

技術參數(shù)  

標稱沖擊動能：0.735J 

彈ji錘沖程：75mm  

指針滑塊的靜摩擦力：0.5N±0.1N  

彈擊桿球面曲率半徑SR：25mm±1mm  

鋼砧率定回彈值：74±2  

外形尺寸：Φ54*268mm 

重量：≈1Kg

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產(chǎn)品名稱：電阻率方塊電阻測試儀 
產(chǎn)品型號：KDB-1

本方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。 
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。 
由于儀器設有恒流源開關，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。 
儀器性能 
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探針壓力：25g～250g； 
探針曲率半徑：25μm～450μm 
（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）； 
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調(diào) 
           （100mA檔）    8～36V連續(xù)可調(diào) 
          （1000mA檔）    8～15V連續(xù)可調(diào)； 
測量方式：手動或自動（配置測試軟件）； 
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。