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葉面積測量儀YMJ-B

葉面積測量儀YMJ-B

簡要描述:葉面積測量儀YMJ-B
功能特點:
1.主機、探頭一體化設(shè)計,更方便操作
2.采用微電腦技術(shù),LCD液晶顯示
3.高性能充電鋰電池,無需外部供電,低電壓顯示,更于野外測量
4.一次性可測量較大葉片面積(2000mm×213mm)

產(chǎn)品型號: YMJ-B

所屬分類:

更新時間:2024-10-09

廠商性質(zhì):其他

詳情介紹
品牌其他品牌

葉面積測量儀YMJ-B

功能特點: 
1.主機、探頭一體化設(shè)計,更方便操作 
2.采用微電腦技術(shù),LCD液晶顯示 
3.高性能充電鋰電池,無需外部供電,低電壓顯示,更于野外測量 
4.一次性可測量較大葉片面積(2000mm×213mm) 
▲5.可存儲5000組數(shù)據(jù)(葉面積、葉長、葉寬) 
6.可測量葉片的多種參數(shù):葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比 
▲7.儀器內(nèi)部自帶時間,日期功能,可隨時測量數(shù)據(jù)保存測量時間,利于查詢。 
8.可在主機上查詢歷史數(shù)據(jù)。 
▲9.通訊接口:USB接口,可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計算機。 
1、可將存儲記錄的數(shù)據(jù)已EXCEL格式備份保存,用以查看分析。 
2、數(shù)據(jù)報表、圖形報表均可選擇時段進行查詢查看,并可通過計算機打印。 
3、圖形可進行放大、縮小操作,并可進行平均值計算,也可導(dǎo)成BMP格式進行保存。 
葉面積測量儀YMJ-B技術(shù)參數(shù): 
▲測量參數(shù):葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比 
測量單位:毫米,平方毫米 
▲測量精度:±2% 
測量精度:0.1mm 
▲大測量長度:2000mm 
大測量寬度:213mm 
大測量厚度:3mm 
主機數(shù)據(jù)存儲:5000組 
電壓:3.7V

 

 

產(chǎn)品名稱:差示掃描量熱儀
產(chǎn)品型號: DSC-50

差示掃描量熱儀 DSC-5 0 
  產(chǎn)品介紹: 
差示掃描量熱儀為觸摸屏式,可進行玻璃化轉(zhuǎn)變溫度測試、相轉(zhuǎn)變測試、熔融和熱焓值測試、產(chǎn)品穩(wěn)定性、氧化誘導(dǎo)期測試。 
  
符合標準: 
  GB/T 19466. – 004/ISO 11357- :1999 第   部分:玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定 
  GB/T 19466.3– 004/ISO 11357-3:1999 第 3 部分:熔融和結(jié)晶溫度及熱焓的測定 
  GB/T 19466.6- 009/ISO 11357-3:1999 第 6 部分:氧化誘導(dǎo)時間和氧化誘導(dǎo)溫度的測定 
  
技術(shù)參數(shù): 
1. 溫度范圍: 室溫~500℃ 
2 . 溫度分辨率: 0.01℃ 
3. 溫度波動: ±0.1℃ 
4. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃ 
5. 升溫速率: 0.1~100℃/min 
6. 恒溫時間:建議< 4h 
7. 控溫方式:升溫,恒溫(全自動程序控制) 
8. DSC 量程: 0~±600mW 
9. DSC 解析度: 0.01mW 
10. DSC 靈敏度: 0.01mW 
11. 工作電源: AC 0V/50Hz 或定制 
12. 氣氛控制氣體:氮氣、氧氣(儀器自動切換) 
13. 氣體流量:0-300mL/min 
14. 氣體壓力:0. MPa 
15. 顯示方式:  4bit 色,8 寸 LCD 觸摸屏顯示 
16. 數(shù)據(jù)接口:標準 USB 接口 
17. 參數(shù)標準: 配有標準物質(zhì)(銦,錫,鋅),用戶可自行校正溫度 
技術(shù)特點: 
1. 工業(yè)級別的 8 寸觸摸屏,顯示信息豐富。 
 . 可拆卸內(nèi)置爐體設(shè)計,模塊化設(shè)計,改善了安裝工藝,用戶可自行更換爐體。 
3. USB 通訊接口,通用性強,通信可靠不中斷,支持自恢復(fù)連接功能。 
4. 標配雙溫度探頭,保證樣品溫度測量的高度重復(fù)性。 
5. 自動切換兩路氣氛流量,切換速度快,穩(wěn)定時間短。同時增加一路保護氣體輸入。 
6. 軟件簡單易操作。

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 
產(chǎn)品型號:JC-008

平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號:JC-008
用途: 
機械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 
功率:20W 電源:220V/50Hz 燈源照射 
  
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm 
φ150mm以上屬非標立品需訂做 
  
平面平晶產(chǎn)品特點 
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來 
測量被測量面的平面度。 
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 
高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別于 
計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。

 



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